BS EN 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.目视检验

作者:标准资料网 时间:2024-05-11 16:12:37  浏览:8790   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Externalvisualexamination
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.目视检验
【标准号】:BSEN60749-3-2002
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-08-27
【实施或试行日期】:2002-08-27
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;热学;大气压;温度;集成电路;电学测量;尺寸;潮气;环境试验;环境试验;气候;密封性;电子设备及元件;半导体;机械试验;环境;耐力;组件;温度变化;气候试验;电气工程;试验;外观检查(试验);电子工程;易燃性
【英文主题词】:
【摘要】:ThepurposeofthispartofIEC60749istoverifythatthematerials,design,construction,markings,andworkmanshipofasemiconductordeviceareinaccordancewiththeapplicableprocurementdocument.Externalvisualinspectionisanon-destructivetestandapplicableforallpackagetypes.Thetestisusefulforqualification,processmonitor,orlotacceptance,orboth.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语